搜索
| 測試項(xiàng)目 | 測試能力 | 測試項(xiàng)目 | 測試能力 |
| 傳導(dǎo)騷擾（CE） | 20Hz-108MHz | 低頻磁場抗擾度 | 10Hz-250kHz,180 dBuA/m |
| 輻射騷擾（RE） | 20Hz-6GHz | 耦合傳導(dǎo)抗干擾 | ISO7637-3 |
| 瞬態(tài)傳導(dǎo)騷擾 | DC1000V,2GHz/s | 高低壓耦 | 150KHz-108MHz |
| 低頻磁場騷擾測試（ME） | 10Hz-200KHz | 浪涌（沖擊）抗擾度 | ±0.5KV-±6KV |
| 低頻電磁場發(fā)射測試 | 9kHz-30MHz | 高低壓耦 HV to LV | 150KHz-108MHz |
| 大電流注入（BCI） | 10kHz-400MHz:300mA | 浪涌（沖擊）抗擾度 | ±0.5KV-±6KV |
| 電波暗室法輻射抗擾度（RI） | 10kHz-6GHz:200V/m | 電快速瞬變脈沖群抗擾度 | ±0.5KV-±4KV |
| 靜電放電抗擾度（ESD） | -30kV-30kV | 交流AC端諧波發(fā)射 | 單相32A，三相75A |
| 手持發(fā)射設(shè)備輻射抗擾度 | 26MHz-6GHz,50W | 交流AC端電壓波動(dòng)和閃爍 | 單相32A，三相75A |
| 瞬態(tài)傳導(dǎo)抗干擾 | ISO7637-2 pulse1-5b | ISO7637-4 | 脈沖B、C |
